簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果:共6筆資料 檢索策略: "對位".ckeyword (精準) and cdept.raw="自動化及控制研究所"


  • 在搜尋的結果範圍內查詢: 搜尋 展開檢索結果的年代分布圖

  • 個人化服務

    我的檢索策略

  • 排序:

      
  • 已勾選0筆資料


      本頁全選

    1

    應用於數位微影之莫爾條紋對位量測技術開發
    • 自動化及控制研究所 /108/ 碩士
    • 研究生: 蘇俊翰 指導教授: 郭鴻飛
    • 在線路圖案的定義過程,無論是使用什麼型態的曝光系統,對準量測技術皆為關鍵的製程步驟,在曝光之前能夠準確的將載台進行可以有效減少製程的重工率,進而降低製程成本。本實驗室在先前的研究過程中,發現使用數位…
    • 點閱:278下載:16

    2

    彩色3D列印系統之串列噴頭 自動對位技術研究
    • 自動化及控制研究所 /106/ 碩士
    • 研究生: 李建睿 指導教授: 蔡明忠
    • 近年噴頭噴印技術隨著積層製造成長而發展快速,由於壓電噴頭的快速噴印及高精準度等優勢,可印製解析度高的成品,進而成為3D列印之材料噴印技術之主流。隨著噴印精準和高解析度的要求,噴印前之對位系統為關鍵技…
    • 點閱:543下載:2

    3

    基於紅外光莫爾條紋對準光學模組開發
    • 自動化及控制研究所 /110/ 碩士
    • 研究生: 柯友加 指導教授: 郭鴻飛
    • 三維先進封裝可以透過層層堆疊擴展每個3D芯片的功能,遠遠超出傳統縮放的能力,然而進一步的尺寸小型化為半導體行業帶來了巨大的挑戰,其中在晶圓鍵合過程中對準量測技術為關鍵的製程步驟,在鍵合前能夠準確將晶…
    • 點閱:229下載:0
    • 全文公開日期 2024/09/16 (校內網路)
    • 全文公開日期 2024/09/16 (校外網路)
    • 全文公開日期 2024/09/16 (國家圖書館:臺灣博碩士論文系統)

    4

    應用灰階共變異矩陣於PVC卡片刮痕瑕疵檢測之研究
    • 自動化及控制研究所 /99/ 碩士
    • 研究生: 吳佳霖 指導教授: 蔡明忠
    • 現今PVC卡片的瑕疵種類眾多,例如:刮痕、沾污、毛削、漏印等,其中低對比刮痕是屬於較難檢測的瑕疵,常需要藉由人工手持PVC卡片在強烈光源下,再經由翻轉不同角度來檢查刮痕瑕疵。因此,在長時間檢測之下對…
    • 點閱:309下載:12

    5

    基於影像檢測方法之3D列印系統 多壓電噴頭自動對位研究
    • 自動化及控制研究所 /105/ 碩士
    • 研究生: 徐銘 指導教授: 蔡明忠
    • 近年噴頭噴印技術隨著積層製造的再次崛起,而衍生出許多不同於紙本印刷的新興應用;由於壓電噴頭的快速噴墨與高精準度等優勢,適合應用於快速打樣與各式直接製造等方法,進而成為在3D列印中材料噴印與黏著劑噴塗…
    • 點閱:1029下載:2

    6

    基於雙視覺系統實現XXY對位平台定位誤差補償之研究
    • 自動化及控制研究所 /110/ 碩士
    • 研究生: 杜育宏 指導教授: 郭永麟
    • 本研究主要目的是整合雙CCD視覺系統與XXY對位平台,並且建構定位誤差補償控制之設計。因為考量到XXY對位平台的部分機構件有加工或組裝誤差的累積,亦或是長時間的使用導致整體運動精度不佳等問題,而導致…
    • 點閱:290下載:3
    1